TT212涂层测厚仪
TT212涂层测厚仪 涂层测厚仪TT212是磁性、涡流一体的便携式覆层测厚仪,它能快速、无损伤、精密地进行涂、镀层厚度的测量。既可用于实验室,也可用于工程现场。
晶圆缺陷检测系统LODAS
列真公司在半导体光罩检测设备上积累了独自技术, 主产品 LODAS ™系列具有日本专利权的激光检测技术,可同时探测收集激光的反射光,透射光以及共聚焦,可一次性检查第三代半导体 SIC 等材料表面,背面和内部的缺陷,可探测最小缺陷为10
视频座滴法接触角测定仪
新一代的接触角测量仪包括了从手动到全自动的所有配置。模块化的设计,任何环境气氛下的测试都可以实现。多种测量技术、不同的配置,可以象堆积木一样组合在一起,任何自动化控制上的要求都可实现。
国产便携式色差仪HP-2132
国产便携式色差仪HP-2132产品广泛用于生物、塑胶及印刷等行业,主要根据CIE色空间的Lab,Lch原理,测量显示出样品与被测样品的色差△E以及△Lab值。
